新闻资讯

方阻测试结果总是不一致?先排查这五个因素

方阻测试结果总是不一致?先排查这五个因素

方阻测试结果波动,可能与样品均匀性、探针接触、边界效应、测试参数及环境温湿度有关,需通过规范测试逐项排查。 采用多点、自动化、可重复的测试方式,有助于分析薄膜导电均匀性,为工艺研发和质量控制提供可靠参考。

AM0 与 AM1.5G 光谱的区别及应用场景

AM0 与 AM1.5G 光谱的区别及应用场景

AM0 与 AM1.5G 是太阳光谱测试中最常见的两个标准,分别对应太空环境和地面大气后的太阳光。 理解它们的差别,有助于更准确地选择太阳光模拟器、滤光片和光伏器件测试条件。

TEC 冷热台在材料电学测试中的作用

TEC 冷热台在材料电学测试中的作用

TEC 冷热台可以为材料电学测试提供稳定、可控的温度环境。 通过变温测试,可以更清楚地观察材料电阻、I-V 特性和器件稳定性的变化规律。

TPC/TPV 瞬态光电测试能告诉我们什么

TPC/TPV 瞬态光电测试能告诉我们什么

TPC/TPV 瞬态光电测试可以帮助我们观察光电器件中的载流子传输与复合过程。 本文将介绍 TPC、TPV 分别能反映什么,以及它们在光伏和光电探测器研究中的作用。

四探针法测方阻的原理与应用

四探针法测方阻的原理与应用

方阻测试是评价导电薄膜电学性能和均匀性的重要方法。 本文将介绍四探针法的基本原理,以及它在薄膜材料测试中的典型应用。

方阻是什么?为什么薄膜材料都要测方阻

方阻是什么?为什么薄膜材料都要测方阻

RM 系列自动四探针方阻测试仪 适用于导电薄膜、透明电极、半导体薄膜及新能源材料的方阻测试与均匀性分析。

AM0 光谱在空间太阳能电池测试中的意义与应用

AM0 光谱在空间太阳能电池测试中的意义与应用

LSS300-AM0 LED 太阳光模拟器面向空间环境、航天光照与高可靠光电测试应用适用于空间太阳电池、空间材料、光电探测器件及高可靠电子产品的研发验证。

RM150A 交付南京大学,助力微纳与半导体材料电学表征

RM150A 交付南京大学,助力微纳与半导体材料电学表征

丘山仪器 RM150A 半导体微区电学测试系统正式交付南京大学,支撑微纳器件、半导体材料的高精度电学表征实验。

新品发布 | A+A+A+级 AM0 LED太阳光模拟器

新品发布 | A+A+A+级 AM0 LED太阳光模拟器

A+A+A + 级 AM0 太阳光模拟器,精准模拟太空标准光谱,面向航天光伏器件开展可靠性与光电性能测试。

四探针应用|高低温四探针测试解决方案

四探针应用|高低温四探针测试解决方案

以FPP150A 四探针主机为核心,搭配高低温四探针模块,组成完整的四探针测试系统。

123456

联系我们

在线工程师
扫描二维码立马咨询

我们的电话
17652520563