●可对最大6英寸晶圆的方阻/电阻率参数进行测量
●使用红宝石轴承引导碳化钨探针
●配套软件Smart FPP自动采集数据,修正测量结果,计算方阻、电阻率和电导率等参数
● 精密探针头:镶嵌红宝石轴套的探针头,保证测量的机械精度、稳定性和寿命
● 超宽测量范围:1 µΩ ∼ 1 MΩ
● 最大样品尺寸:150 mm ∗ 10 mm (直径 ∗ 厚度)
● 测量精度:±1%
● 重复性 (1σ):0.2% (ITO标样动态测试)
● 数据可视化:配套Smart FPP软件,自动采集数据并计算方阻、电阻率、电导率等参数
260 mm ∗ 230 mm ∗ 220 mm
探针间距:1.00 mm
探针材料:碳化钨
探针压力 (可选):4∼6 N
机械游移:< 0.3%
宝石轴承内孔与探针间距:< 6 µm
● 半导体及太阳能电池(单晶硅、多晶硅、非晶硅、钙钛矿)
● 液晶面板(ITO/AZO)
● 功能材料(热电材料、碳纳米管、石墨烯、纳米线、导电纤维、复合材料)
● 半导体工艺检测(金属化/离子注入/扩散层)
● 非晶合金等、形状记忆合金
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